カンコク タイワン チュウゴク カイガイ シンシュツ リスク ヲ ブンセキ
韓国・台湾・中国, 海外進出リスクを分析 / Nikkei microdevices監修
(フラットパネル・ディスプレイ / 日経エレクトロニクス, 日経マイクロデバイス編 ; 2005 ; 分析編)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | 東京 : 日経BP社 , 2005.5 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | 218p ; 28cm |
目次/あらすじ
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| 配架場所 | 請求記号 | 巻 次 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 図書館/第3書庫(大型本) | 549.9/F/05-3 | 2005 | 30162443 |
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4822213307 |
書誌詳細を非表示
| 著者標目 | Nikkei microdevices |
|---|---|
| 書誌ID | TT20113177 |
| ISBN | 4822213307 |
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